Station sous pointes pour la caractérisation des semi-conducteurs
Image
- Type photo
- Équipement
- Titre
- Station sous pointes pour la caractérisation des semi-conducteurs
- Photographe
- Dominique Longieras
- Date de prise de vue
- 2022-09-26
- Datation
- 2022
- Commentaire, description
-
Station Signatone WL350 pour des tests semi-automatiques de senseurs de des puces électroniques.
. Peut accueillir des galettes jusqu'à 12 pouces (300 mm).
. Possède un plateau thermique qui couvre la plage de température de -60˚C à +200˚C (avec surveillance de l’humidité), et qui peut aussi fournir de la haute tension jusqu’à 10 kV.
. On l’associe à un système de mesure Keithley 4200-SCS Semiconductor Characterization System avec 2 cartes 4200-SMU (mesures I-V, +/- 200 V) et une carte 4210-CVU (mesures C-V, 1 kHz - 10 MHz) et des sourcemètres Keithley 2657A (3 kV), et Keithley 2636B (+/- 200 V) (baie à gauche de la station).
. Peut réaliser des mesures de puce sur galette avec une carte à pointes, où le passage d’une puce à l’autre se fait de façon semi-automatique. Ce mouvement est piloté à distance soit depuis le système Keithley, soit avec un système d’acquisition spécifique (baie à droite de la station). - Etablissement
- Laboratoire de Physique des 2 Infinis Irène Joliot-Curie
- Lieu de prise de vue
- Campus d'Orsay - IJCLab - Bât. 200
- Indexation Rameau
- semi-conducteur
- Indexation autre
- ASIC
- I-V
- C-V
- wafer
- Fonds
- IJCLab
- Cote du document original
- 1_d_p_mesures_caracterisations_semi_conducteurs_00150
- Copyright, mention obligatoire
- D.Longieras/IJCLab
- Type de droit
- Creative commons
- Conditions d'utilisation
- CC BY-NC-SA
- Collections
- Médiathèque Université Paris-Saclay
- Photos scientifiques - Patrimoine IJCLab
- Pôle Ingénierie - Détecteur - Instrumentation - Mécanique
- Tous les médias
- 1_d_p_mesures_caracterisations_semi_conducteurs_00150.jpg